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Bateria Computadorizada para Avaliação Executiva.png

Tarefa Span de Dígitos (TSD)

Autores

Natália Martins Dias

e Tatiana Pontrelli Mecca​

 

Submetido ao map.psi por Victor Linking

Magalhães Campos Aceito em 13/11/2025

Sem atualizações desde a submissão.

Construto avaliado

Memória de trabalho (componentes alça fonológica e executivo central)

Comercialização 

Teste comercializado. 

País de origem

Estados Unidos. 

Público-alvo

Crianças e pré-adolescentes de idade entre 4 e 10 anos. 

Forma de aplicação

Com lápis e papel. 

Tipo de teste

Teste de desempenho. 

Tipo de uso

Multidisciplinar. 

Referência principal

Dias, N. M., & Mecca, T. P. (2019). Tarefa Span de Dígitos: Descrição e instruções gerais. In N. M. Dias, & T. P. Mecca (orgs.). Avaliação neuropsicológica cognitiva: Memória de trabalho 
- Volume 4 (pp. 122-126). Memnon.  

Estudos psicométricos identificados

Sem informações. 

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Descrição breve

Tarefa clássica de criação geralmente atribuída a Hermann Ebbinghaus (1850–1909), aprimorada por Joseph Jacobs (1859–1916) e Francis Galton (1822–1911), tornando-se um dos paradigmas mais utilizados para avaliar memória. Alan Baddeley (n. 1931) destacou como suas duas partes refletem componentes de seu modelo de memória de trabalho: a alça fonológica, no span direto, e o executivo central/controle atencional, no span reverso. 

 

No teste, o participante escuta sequências numéricas e deve repeti-las na mesma ordem (primeira parte) ou na ordem inversa (segunda parte). A complexidade aumenta conforme a extensão das sequências, permitindo estimar o span (alcance) da memória e a eficiência do controle atencional.

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